OLED 壽命週期測試系統 Model 58131

OLED 壽命週期測試系統 Model 58131

主要特色：

獨立且精密的量測方式(PMU)

• 提供高精確度的電壓及電流
• 高精確度的量測能力
• 單一待測物故障自我控制，不影響其他測試中的待測物

測試功能

• 電氣特性量測
• 亮度量測
• 自行設計輸出模式(正負電壓及電流)

自動(dòng)測試及資料載入

• PXI機箱含嵌入式控制器
• OLED測試卡 (一張PXI卡可測試兩個(gè)OLED面板)
• 每個(gè)系統zui大可提供34組待測物

選購配備

• 頻譜分析量測光學(xué)特性
• Turnkey 測試解決方案
• 客制化的測試治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
• 部分機架可置入滑動(dòng)抽屜(每個(gè)抽屜有四組治具)

58131是專(zhuān)針對OLED壽命試驗所設計的測試系統，58131可作電氣特性的量測，如正負電壓、電流的供給及量測、亮度的量測及自動(dòng)量測OLED亮度壽命時(shí)間，並可選購頻譜分析卡，量測光學(xué)特性的功能。58131採用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量測方式，此種系統架構，在任何待測物發(fā)生短路或開(kāi)路時(shí)，並不會(huì )影響其他待測物之量測或造成系統的任何損毀，每張PXI卡片可提供兩組獨立且精密的電壓、電流輸出及量測功能，僅需增加PXI卡片即可立即增加量測組數。

本系統以開(kāi)放式的PXI架構為硬體基礎，可任意擴充測試組數，PXI系統具有先進(jìn)的 "Hot plug ＆ play"功能，即當測試中的某一待測物發(fā)生短路或故障時(shí)，僅需移除發(fā)生故障之待測物，不影響其他測試中之待測物，系統仍可持續測試，此功能將是PXI架構之zui大優(yōu)點(diǎn)，可大量提升測試效能。

人性化的軟體介面，可自行設計電源輸出模式、電源參數值、量測時(shí)間、亮度校正等項目，並有曲線(xiàn)繪圖、資料表顯示及儲存，讓您可輕鬆分析測試報告。另外，測試治具的設計，便利的19吋機架，可隨意移動(dòng)測試環(huán)境，精密輕巧的測試盒，可輕鬆替換待測物，電腦主機及螢幕組裝於機架上，以隨時(shí)了解測試狀況，18個(gè)插槽的PXI機箱，可同時(shí)檢測34組待測物，讓你擁有體積zui小，待測模組zui多的超迷你測試系統。

58131 PXI OLED Lifetime Test System 為精巧型的測試系統，提供了的量測能力，並採用 "PMU"量測方式，及易於操作的人性化介面，為*的OLED 壽命週期測試解決方案。

硬體架構 li>8/14/18槽PXI機箱 li>52941 533MHz/ 52942 800MHz嵌入式控制器 li>52951 電源量測卡 li>選購19"機架 li>選購 LCD Monitor li>選購滑鼠及鍵盤(pán)

軟體操作介面 測試系統提供了Window操作介面，便利的架構可輕易控制電氣及亮度測試 li>選擇多種電源輸出模式 li>測試中可顯示曲線(xiàn)圖及資料表 li>同時(shí)監控34組待測物 li>具有亮度校正功能 li>亮度達到LIFE TIME時(shí)，自動(dòng)停止測試

客制化的測試治具 li>每個(gè)機箱配合 34 組 OLED 測試治具 li>客制化的測試治具，搭配不同待測物，讓操作更加便利

校正 li>獨立校正每個(gè)模組