3112 晶片測試分類(lèi)機

3112 晶片測試分類(lèi)機

主要特色：

• 高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測試分類(lèi)機
• x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測試分類(lèi)
• * (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組
• 測式座產(chǎn)品堆疊檢測
• x12 輸出分類(lèi)盤(pán)可程式設定輸出類(lèi)別
• 全程即時(shí)良率顯示與控制
• 全程探針接觸狀態(tài)顯示 (選配)

Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化晶片測試分類(lèi)機，可藉由治具變更處理 各種不同尺寸規格之晶片測試與分類(lèi)。此設備透 過(guò)PnP方式將晶片自晶片盤(pán)載入至測試站中，精 確的測試後依據測試結果穩定的放置於分類(lèi)盤(pán) 中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動(dòng) 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的 損壞。

晶片測試運用此自動(dòng)化測試分類(lèi)技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時(shí)也增加了測試穩 定度及測試良率。此外，其簡(jiǎn)潔的機臺設計更可 節省機臺於測試廠(chǎng)之佔地面積，幫助客戶(hù)大幅降 低生產(chǎn)成本。