更新時(shí)間：2017-11-15
Tektronix DSA8200 采樣示波器為*挑戰的系統設計提供信號高保真度。當前高速電路使得信號路徑檢定和BER分析的挑戰性進(jìn)一步提高。由于Z高的TDR帶寬、Z快速的S參數測量功能及全面支持光學(xué)標準測試，DSA8200數字串行分析儀提供了完整的高速物理層測試平臺。
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Tektronix DSA8200 采樣示波器
DSA8200采樣示波器概述
功能 | 優(yōu)點(diǎn) |
| zui多4個(gè)真實(shí)差分通道 | 利用真實(shí)的差分TDR激勵信號準確地檢測非線(xiàn)性設備，如放大器。 |
| 高帶寬（50 GHz）時(shí)域反射儀 | 以12 ps 的入射級將阻抗不連續性分解至 1mm。 |
| 光學(xué)模塊噪聲低，光學(xué)靈敏度高，擁有消光比校準功能及寬波長(cháng)。 | 通過(guò)一個(gè)光學(xué)測試解決方案，滿(mǎn)足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標準。 |
| IConnect® 信號完整性 | 利用集成的TDR和S參數測量減少由測試治具信號降級引起的測量錯誤。 |
| 串行數據網(wǎng)絡(luò )分析 (SDNA) | 通過(guò)一個(gè)儀器進(jìn)行時(shí)域和頻域分析來(lái)降低測試成本。準確地分析信號通路以預測信號串擾和抖動(dòng)，確?？煽康南到y運行。 |
| 串行數據鏈路分析 (SDLA) | 通過(guò)抖動(dòng)、噪聲和BER分析確定眼閉的準確原因。通過(guò)快速評估各種FE/DFE均衡設置zui大化接收器的眼睜時(shí)間。 |
| 遠程采樣頭 | 通過(guò)將TDR頭接近被測試設備來(lái)優(yōu)化信號保真度和zui小化探頭、電纜及測試治具的影響。 |
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