更新時(shí)間:2018-01-03
TH2638電容測量?jì)xTH2638系列高速精密電容測量?jì)x是具有更高測試頻率的新型數字電容測量?jì)x器,其體積小,緊湊便攜,便于上架使用。該儀器測量電容基本精度為±0.07%,損耗精度高達0.0005,測試頻率Z高可達1MHz,4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測試提供高速、可靠的測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類(lèi)電容。
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TH2638電容測量?jì)x
*替代AgilentE4981A
■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面
■ zui高1MHz的測試頻率(100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz),增加了100Hz,10kHz 和100kHz四點(diǎn)頻率,可對薄膜電容、電解電容、電力電容在該頻率下進(jìn)行高速測試更方便地進(jìn)行該頻率下串聯(lián)等效電阻ESR的測試,這點(diǎn)是同惠*的
■ zui高測試速度:2.3ms/次,并有五檔速度選擇
■ 測試電容基本精度±0.07%
■ 損耗因數:±0.0005
■ V、I 測試信號電平監視功能
■ 低阻抗測試,信號電平補償功能
■ 內建比較器,11檔分選
■ 內部文件存儲和外部U盤(pán)文件保存
■ 測量數據可直接保存到U盤(pán)
■ 截屏保存到U盤(pán)
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口、機械手接口
■ 接觸檢查功能
■ 同步信號源
■ 1MHz時(shí)的測試頻率帶有偏移功能(±1%,±2%)
■ 10點(diǎn)列表掃描,可對頻率、電壓進(jìn)行掃描
■ TH2638系列高速精密電容測量?jì)x是具有更高測試頻率的新型數字電容測量?jì)x器,其體積小,緊湊便攜,便于上架使用。該儀器測量電容基本精度為±0.07%,損耗精度高達0.0005,測試頻率zui高可達1MHz,4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測試提供高速、可靠的測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類(lèi)電容。在對同一個(gè)電容器進(jìn)行多次測量的結果*性好,即使是很低的電容值也可以很精確地測量出來(lái)。該儀器兼容SCPI命令集,帶有機械手接口和掃描器接口,掃描接口可逐個(gè)的對各個(gè)測試通道到開(kāi)路/短路/負載誤差校正進(jìn)行掃描,zui多可以?huà)呙?56個(gè)通道。在低頻測量時(shí),當被測件阻抗很小時(shí),信號源內阻和測試線(xiàn)纜將會(huì )引起被測件兩端的電壓低于設定電壓范圍,使用儀器的信號電平補償功能就會(huì )調整被測件上的電平到設定值范圍內。
TH2638系列特別針對生產(chǎn)線(xiàn)測試上增加了對不良接觸的檢查功能,測量時(shí)無(wú)需額外的時(shí)間來(lái)執行此操作就能夠檢測到被測器件與測試儀器之間可能出現的不良接觸;儀器具有在實(shí)際測試保持同步的信號源功能,只在進(jìn)行真正測試的時(shí)候才把測試信號施加到被測器件上,在放置和取下被測器件的瞬間不會(huì )給被測器件施加測試信號,這樣就顯著(zhù)的降低了在接觸不良的情況下較大測試電流對測試夾具或觸點(diǎn)的蝕損;當前測試頻率為1MHz時(shí),可對測試頻率進(jìn)行偏移設置(偏移值為±1%,±2%)這一功能在陣列式電容器測試系統中可消除相鄰測量終端受到干擾,還可以降低測量結果的波動(dòng)。儀器還帶有料箱分類(lèi)功能,可以按照產(chǎn)品的質(zhì)量設置9個(gè)料箱根據C-D/Q/R/G的測試結果確定產(chǎn)品合格與不合格,并放入不同等級到料箱內。
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