3650-EX SoC/Analog 測試系統

3650-EX SoC/Analog 測試系統

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 1024個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構
• 512 DUTS 平行測試功能
• 96個(gè)電源通道
• 硬體規則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學(xué)易用的 WINDOWS 7作業(yè)環(huán)境
• 每片 VI45 類(lèi)比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類(lèi)比單板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
• 即時(shí)pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750-EX)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• zui經(jīng)濟實(shí)惠的SoC和消費性混合信號晶片產(chǎn)品測試方案

平行測試功能

Chroma 3650-EX可在一個(gè)測試頭中，提供zui多 1024個(gè)數位通道，並具備高產(chǎn)能的平行測試功 能，zui高可同時(shí)測試512 個(gè)待測晶片，以提升 量產(chǎn)效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個(gè)數位通道，並結合具備高效 能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個(gè)數位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以 內的精準度。

彈性化架構

雖然半導體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設備應建立在可符合長(cháng)時(shí)間需求的設備之 上。Chroma 3650-EX在設計其架構時(shí)，應用先進(jìn) 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類(lèi)比測試模組等等選配，以確保 符合未來(lái)多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實(shí)現從 設計端至量產(chǎn)端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。

CRISP (軟體測試環(huán)境)

架構在Windows 7作業(yè)系統上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個(gè)結合工程開(kāi)發(fā)與量 產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個(gè)部份 : 執行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機臺管理模組。透過(guò)親切的圖形人機介面的 設計，CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿(mǎn)足研發(fā)/測試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用於重覆任一測試 參數，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過(guò)特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生產(chǎn) 人員可輕易地控制每個(gè)測試階段。它提供產(chǎn)品導 向的圖形介面操作，用來(lái)控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的 各項參數，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所 需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設計者已規劃好的 流程，即可開(kāi)始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線(xiàn)上的學(xué)習 的時(shí)間。

zui低價(jià)位的測試解決方案

要配合現今功能日趨複雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時(shí) 間和整體成本來(lái)達成，而非只是簡(jiǎn)單地減少測 試系統的價(jià)格而已。Chroma 3650-EX的設計即 是可適用於所有類(lèi)型的應用環(huán)境，例如 : 工程驗 證、晶圓測試和成品測試。週邊設備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅動(dòng)程式介面(TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測機和送料機，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。

應用支援

不管是新客戶(hù)或是現有客戶(hù)，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提昇生產(chǎn) 量、把握新興市場(chǎng)的機會(huì )、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng )新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位於的客服支援人員皆會(huì )竭盡 所能提供客戶(hù)即時(shí)解有效率的解決方案。