3280 Test-In-Tray測試分類(lèi)機

主要特色：

• 整合SD卡測試機與自動(dòng)分類(lèi)機功能
• 平行測試120個(gè)micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時(shí)間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類(lèi)結果資訊
• 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面
• SD卡資料寫(xiě)入模組

Chroma 3280採用創(chuàng )新的技術(shù)整合SD卡測試機與 自動(dòng)分類(lèi)機的功能，並利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達到大量平行測試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測 試的功能，3280為所有的SD卡類(lèi)產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)創(chuàng )新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶(hù)帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設計更可節省機臺於測試廠(chǎng)之佔地面積。

對於低價(jià)的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，製造商也會(huì )極為敏感。而這樣 的特性往往是此類(lèi)消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰。對於SD卡類(lèi)產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類(lèi)製造商了解在SD卡的製程 中必須採用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為採用KGD生產(chǎn)的SD卡類(lèi) 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對於測試項目的要 求，只需針對成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測，而不需要再對整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機臺與自動(dòng)分類(lèi)機的功 能，並採用創(chuàng )新的設計，滿(mǎn)足採用KGD生產(chǎn)的SD 卡類(lèi)產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統的測試機臺來(lái)的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置於IC托盤(pán)中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節省傳統的測試方法因自動(dòng)分類(lèi)機在進(jìn)行測試 時(shí)，必須以機器手臂夾取每個(gè)待測元件所需花取 的索引時(shí)間。因此，提供了一個(gè)zui有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對於120個(gè)SD卡進(jìn)行測 試時(shí)所需花費的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專(zhuān)屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供 了能夠同時(shí)測試120個(gè)micro SD卡的測試能力。